--应力仪--|天天微资讯

美国Hinds Instruments的双折射测量技术已经被行业采用，以高精度、分辨率和重复性测量表征材料中的应力双折射。应力仪能够在0．001nm分辨率下测量光阻，最低噪声为0．005nm， 这些系统是强大的、动态的和可扩展的，可以满足您的的应用需求。我们提供跨光谱（DUV， VIS和NIR）的应力仪， 并能够测量几乎所有的光学材料。

应用

【资料图】

质量控制计量

低水平双折射测量的有

平滑玻璃

科学光学元件

激光晶体

DVDs

光刻组件的质量验证，包括

光掩模

熔石英光学元件

氟化钙镜片毛坯和窗口

主要特点

在低水平双折射测量中具有高灵敏度

同时测量双折射幅度和角度

精确度可重复性

高速测量

光学系统中无移动部件

可变尺寸光学元件的自动映

光弹调制器技术

简单、便于用户使用的操作

关键词： 可扩展的 同时测量 应力双折射